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  PHASCOPE PMP10鍍鎳層測(cè)厚儀

  手持式PHASCOPE PMP10鍍鎳層測(cè)厚儀非常適合電鍍和印刷電路板（PCB）行業(yè)的質(zhì)量控制。 由于該儀器采用了相敏渦流方法（ISO 21 968），因此可以測(cè)量任何基材上的金屬涂層。

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  PHASCOPE PMP10鍍銅層測(cè)厚儀

  菲希爾PHASCOPE PMP10鍍銅層測(cè)厚儀使用相位感度電渦流方法是根據(jù)草擬中的ISO/DIS 21968規(guī)格所製造的，比較傳統(tǒng)的電渦流 DIN ENISO 2360 的測(cè)量方法，這種測(cè)量方法在測(cè)量金屬鍍層厚度方面有明顯的好處。

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  德國 SR-SCOPE RMP30-S 銅厚度測(cè)厚儀

  德國 SR-SCOPE RMP30-S 銅厚度測(cè)厚儀可用于測(cè)量銅層厚度，印刷電路板，無損、準(zhǔn)確、不受背面銅層厚度的影響。儀器小巧便攜，操作簡單，上手容易。

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  進(jìn)口孔銅測(cè)厚儀SR-SCOPE RMP30-S

  進(jìn)口孔銅測(cè)厚儀SR-SCOPE RMP30-S SR-SCOPE® SR-SCOPE® 測(cè)量線路板正面上的銅涂層厚度，根據(jù)微電阻法符合 EN 14571 的標(biāo)準(zhǔn)。特別適用于測(cè)量多層或是較薄的板材上的銅厚，因?yàn)樵摐y(cè)量法保證了兩面相對(duì)的銅層不會(huì)相互影響測(cè)量結(jié)果

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  德國菲希爾封孔質(zhì)量測(cè)試儀YMP30-S

  德國菲希爾封孔質(zhì)量測(cè)試儀YMP30-S ANOTEST? YMP30-S，鋁上的陽極氧化涂層（陽極氧化鋁）的致密度質(zhì)量是其耐候性的決定性因素。FISCHER的 ANOTEST YMP30-S 可測(cè)量導(dǎo)納 Y

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  菲希爾電路板上的銅鍍層測(cè)厚儀

  菲希爾電路板上的銅鍍層測(cè)厚儀 SR-SCOPE®根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)EN 14571：2004測(cè)量印制電路板頂部的銅涂層的厚度。 它特別適用于在多層或薄層壓板上進(jìn)行測(cè)量，因?yàn)橛捎跍y(cè)量方法的原因，彼此相對(duì)的銅層不會(huì)相互影響。

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