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  菲希爾CMS2 STEP鉻鎳銅鍍層電位差測厚儀

  菲希爾CMS2 STEP鉻鎳銅鍍層電位差測厚儀 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化 STEP 測試 ，Couloscope CMS STEP用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個(gè)單個(gè)的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。

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  菲希爾電路板上的銅鍍層測厚儀

  菲希爾電路板上的銅鍍層測厚儀 SR-SCOPE®根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)EN 14571：2004測量印制電路板頂部的銅涂層的厚度。 它特別適用于在多層或薄層壓板上進(jìn)行測量，因?yàn)橛捎跍y量方法的原因，彼此相對(duì)的銅層不會(huì)相互影響。

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