微電腦多功能電解測(cè)厚儀 CMS2 /CMS2 STEP 一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一個(gè)有測(cè)量槽的支架(例如:STEP測(cè)量槽) 。各種測(cè)量臺(tái)設(shè)計(jì)適合不同的應(yīng)用。 CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度,包括多鍍層結(jié)構(gòu); 在多層鎳的量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測(cè)試。
查看詳細(xì)介紹多功能電解質(zhì)測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2 作為測(cè)量鍍層厚度*簡(jiǎn)單的方法之-一,庫(kù)侖法可以用于各種鍍層組合。尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu),當(dāng) 允許破壞性測(cè)量時(shí),它提供了一個(gè)比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。強(qiáng)大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn)
查看詳細(xì)介紹cms2-step微電腦多功能電解測(cè)厚儀 庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易行的電化學(xué)分析方法,可用于確定金屬涂層的厚度。 盡管該方法主要用于檢查電鍍涂層的質(zhì)量,但它也適用于檢測(cè)印刷電路板上剩余純錫的厚度。
查看詳細(xì)介紹德國(guó)品牌電解(庫(kù)侖)測(cè)厚儀Couloscope cms2 篤摯儀器提供全套的德國(guó)Fischer 庫(kù)侖測(cè)厚儀極配件備件,操作指導(dǎo),技術(shù)服務(wù)等,一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一個(gè)有測(cè)量槽的支架(例如:STEP測(cè)量槽) 。各種測(cè)量臺(tái)設(shè)計(jì)適合不同的應(yīng)用。
查看詳細(xì)介紹庫(kù)侖電解式測(cè)厚儀GalvanoTest 2000 超過70種涂層/基體組合(標(biāo)準(zhǔn)版),在平坦和彎曲表面上的涂層在小型零件和電線上的涂層10種預(yù)設(shè)類型的金屬:Cr,Ni,Cu,黃銅,Zn,Ag,Sn,Pb,Cd,Au 8 特殊應(yīng)用的金屬涂層,測(cè)量范圍:0.05…75μm.
查看詳細(xì)介紹電解式測(cè)厚儀德國(guó)菲希爾/epk 庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量,現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。使用 COULOSCOPE CMS2 和支架 V18 測(cè)量印刷線路板上剩余純錫的厚度
查看詳細(xì)介紹cms2 step 電解多層鎳測(cè)厚儀可測(cè)電位差型 德國(guó)菲希爾 CMS2 STEP 庫(kù)侖測(cè)厚儀采用庫(kù)侖方法的鍍層測(cè)量?jī)x,有中文操作系統(tǒng),并且可以測(cè)量多層鎳厚度及電位差。大LCD 顯示器;帶鍵盤;預(yù)先定義大約100 種常用金屬鍍層;50 條存記錄用于特定應(yīng)用的參數(shù)和3000 個(gè)測(cè)量值。該價(jià)格包括電源電纜,塑料灰塵罩及操作手冊(cè)。
查看詳細(xì)介紹微電腦多功能電解測(cè)厚儀Couloscope CMS2 德國(guó)FISCHER菲希爾COULOSCOPE CMS2庫(kù)倫法測(cè)厚儀-----根據(jù)庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差。庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。
查看詳細(xì)介紹費(fèi)希爾多功能電解測(cè)厚儀基本款 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層,通過在控制電流條件下電解腐蝕--------實(shí)際上就是電鍍的反過程。
查看詳細(xì)介紹COULOSCOPE CMS2 STEP汽車行業(yè)庫(kù)侖電解測(cè)厚儀(可測(cè)電位差) 德國(guó)菲希爾COULOSCOPE CMS2 STEP測(cè)厚儀(可測(cè)電位差)-----在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化 STEP 測(cè)試。CMS2 STEP 的特征是 STEP 測(cè)試功能(同時(shí)測(cè)定厚度和電位差)。
查看詳細(xì)介紹微電腦多功能電解測(cè)厚儀STEP 庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量,現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。
查看詳細(xì)介紹上海庫(kù)侖電解測(cè)厚儀Couloscope CMS2 STEP COULOSCOPE® CMS2 STEP庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測(cè)量印刷線路板上剩余純錫的厚度,庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。
查看詳細(xì)介紹庫(kù)侖電解測(cè)厚儀怎么選 庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀可以用于測(cè)量幾乎所有基體上的電鍍層厚度?;w包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環(huán)氧樹脂上的銅等。測(cè)量時(shí)只需去除幾乎看不到的一小塊面積的鍍層金屬
查看詳細(xì)介紹couloscope cms德國(guó)菲希爾電解測(cè)厚儀 Fischer菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀 (庫(kù)侖測(cè)量系統(tǒng))使用庫(kù)侖方法測(cè)量鍍層厚度。配備了一個(gè)大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統(tǒng),該儀器理想的適用于測(cè)量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測(cè)試方法的場(chǎng)合。
查看詳細(xì)介紹德國(guó)進(jìn)口電解測(cè)厚儀Couloscope CMS2 Fischer菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀 (庫(kù)侖測(cè)量系統(tǒng))使用庫(kù)侖方法測(cè)量鍍層厚度。配備了一個(gè)大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統(tǒng),該儀器理想的適用于測(cè)量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測(cè)試方法的場(chǎng)合。
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