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  PosiTector PC非接觸粉末測(cè)厚儀超聲波原理

  PosiTector PC非接觸粉末測(cè)厚儀超聲波原理 美國(guó)狄夫斯高DeFelsko PosiTector PC非接觸粉末測(cè)厚儀，采用非接觸超聲波原理，可以在涂裝工件未固化時(shí)測(cè)量粉末厚度，所測(cè)讀數(shù)為固化后的干膜厚度。

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