fischer銅厚測(cè)量儀 sr-scope rmp30-s
從1953年起，F(xiàn)ISCHER就致力于在鍍層厚度、材料分析、顯微硬度和材料測(cè)試領(lǐng)域研究及開發(fā)不斷創(chuàng)新、性能良好的通用測(cè)試技術(shù)。時(shí)至今日，F(xiàn)ISCHER儀器以其測(cè)量準(zhǔn)確、精度高、穩(wěn)定性好等特點(diǎn)為**用戶推崇和使用。FISCHER儀器以其良好的準(zhǔn)確性和可靠性已經(jīng)遍布各個(gè)工業(yè)和科學(xué)研究領(lǐng)域。FISCHER 更會(huì)用嚴(yán)苛的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)和持續(xù)的發(fā)展策略為主旨，繼續(xù)開發(fā)和生產(chǎn)技術(shù)良好、簡(jiǎn)單實(shí)用的測(cè)量系統(tǒng)和軟件，更好地為廣大客戶服務(wù)。
篤摯儀器（上海）有限公司代理供應(yīng)德國菲希爾各式測(cè)厚儀，包括涂鍍層測(cè)厚儀，菲希爾超聲波測(cè)厚儀，菲希爾銅箔測(cè)厚儀，菲希爾電解測(cè)厚儀等，原裝，質(zhì)保一年，
電氣測(cè)量原理圖 測(cè)量印制電路板上的Cu層
通過電阻法無損測(cè)量印制電路板上銅鍍層的厚度。由于儀器能不受中間銅層和背面銅層的影響，因而特別適合多層板及超薄板上頂層銅箔厚度的測(cè)量。SR-SCOPE RMP30-S 該便攜式設(shè)備采用4點(diǎn)電阻法，十分適合測(cè)量多層電路板上薄鍍層的厚度。這種電路板上的多層銅鍍層通常被環(huán)氧樹脂等絕緣體隔開。SR-SCOPE 的優(yōu)勢(shì)是利用電阻法測(cè)量不會(huì)受到其他層的影響，因此能夠準(zhǔn)確測(cè)定最上層面銅層的厚度。
fischer銅厚測(cè)量儀 sr-scope rmp30-s
主要性能特點(diǎn)：
• 根據(jù)微電阻方法EN14571: 2004，
• 采用微處理器控制的手提式銅箔測(cè)厚儀。
• 電源供電通過電池或交流穩(wěn)壓器。
• 用于測(cè)量數(shù)據(jù)和文字顯示的大液晶顯示器， 有兩條雙行16個(gè)字母顯示，分別顯示測(cè)量參數(shù)和操作指導(dǎo)等。
• 能記憶100個(gè)應(yīng)用程式和在最大1,000個(gè)數(shù)據(jù)塊中的最多10,000個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)。動(dòng)態(tài)的存儲(chǔ)器管理。
• 測(cè)量數(shù)據(jù)塊的儲(chǔ)存帶日期及時(shí)間特征。
• 儲(chǔ)存的測(cè)量數(shù)據(jù)可以進(jìn)行選擇和糾正。
• 自動(dòng)探頭識(shí)別功能。
• 雙向的RS232口用于PC或打印機(jī)連接。
• 帶聽覺信號(hào)的規(guī)格限制。
• 統(tǒng)計(jì)評(píng)估功能。
適宜探頭型號(hào)：ERCU N 和 ERCU-D10。
| 型 號(hào): | SR-SCOPE RMP30-S（測(cè)試主機(jī)） |
| 功 能: | 采用微電阻法原理來測(cè)量銅層的厚度 |
| 適 用: | 測(cè)量多層線路板及單、雙面軟板上銅箔層的厚度 |
| 主機(jī)特點(diǎn): | 特大LCD顯示屏 |
| 測(cè)量探頭: | PROBE ERCU N （測(cè)面銅之探頭） |
| 測(cè)量范圍： | 探頭ERCU N:
范圍 I: 0.1 – 10 μm (0.004 – 0.4 mils)
范圍II: 5 – 120 μm (0.2 – 4.7 mils)
探頭ERCU-D10：
范圍 I: 0.1 – 10 μm (0.004 – 0.4 mils)
范圍 II: 5 – 200 μm (0.2 – 8 mils) |
| 重復(fù)精度: | 探頭ERCU N:0.2 μm (0.008 mils) ≤ s ≤ 2 % 讀數(shù) 探頭ERCU-D10：0.075 μm (0.003 mils) ≤ s ≤ 1.5 % 讀數(shù) |
| 主機(jī)尺寸: | 160mm × 80mm × 30mm （高×寬×厚） |
| 主機(jī)重量: | 230克 |
| 售后服務(wù)： | 一年保修
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