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x射線鍍層與合金的材料分析儀 

作為在生產(chǎn)測量中使用X射線熒光法的*驅，菲希爾很早就意識到此方法在鍍層厚度測量和材料分析領域的巨大潛力，因而開始研發(fā)和制造工業(yè)級耐用的測量儀器。第*臺菲希爾X射線儀器在二十世紀八十年代初就已面世。從那時起，菲希爾不斷改進和研發(fā)X射線熒光技術，使得該項技術在今天居于**地位。其中的一個例子是透明的狹縫設計，從而使用戶可以與基本射線同方向查看樣品。

XDL®系列測量儀器具有電動機驅動的軸（可選）和從上至下的測量方向，可以實現(xiàn)自動串行測試。 X射線源，濾光片，光圈和檢測器的不同版本使選擇具有適合您的特定測量任務的X射線設備成為可能。

典型應用領域：
   • 鍍層與合金的材料分析（包括薄鍍層以及低含量）。來料檢驗，生產(chǎn)監(jiān)控。
  • 研發(fā)項目
   • 電子行業(yè)
   • 接插件和觸點
   • 黃金、珠寶及手表行業(yè)
   • 測量印刷線路板上僅數(shù)個納米的Au和Pd鍍層
   • 痕量分析
   • 根據(jù)高可靠性要求測量鉛Pb含量
   • 分析硬質鍍層材料

特征：
   • 帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。z高工作條件： 50 kV, 50W
   • X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅PIN二極管
   • 準直器：4個，可自動切換，從直徑? 0.1mm 到 ? 0.6 mm
   • 基本濾片：3個，可自動切換
   • 測量距離可在0—80mm范圍內調節(jié)
   • 可編程XY平臺
   • 視頻攝像頭可用來實時查看測量位置，十字線上有經(jīng)過校準的刻度標尺，而測量點實際大小也在圖像中顯示。
   • 設計獲得許可，防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型熒光分析儀：

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器可以用來測量SnPb焊層中的鉛含量。在這一應用中，首先要準確測量SnPb的厚度以便分析Pb的含量。按照航空航天工業(yè)中高可靠性的要求，為避免裂紋的出現(xiàn)，合金中Pb的含量至少必須在3%以上。另一方面，對于日常使用的電子產(chǎn)品，根據(jù)RoHS指令要求，Pb在焊料中的含量多不能超過1000ppm。盡管XDAL測量Pb含量的測量下限取決于SnPb鍍層的厚度，但是通常情況下XDAL的測量下限足夠低，可以很輕易達到以上的測量需求。