Couloscope CMS2 鍍鎳厚度檢測設(shè)備 是根據(jù)庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差的鍍鎳厚度檢測設(shè)備,包括型號Couloscope CMS2和可以測電位差的CMS2 step,多用于整車廠和檢測機構(gòu)。
共 1 條記錄,當前 1 / 1 頁 首頁 上一頁 下一頁 末頁 跳轉(zhuǎn)到第頁
17321369640