TrackScan-P42 3d建模逆向工程掃描儀

• 該3D系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于質(zhì)量控制、產(chǎn)品開發(fā)、逆向工程等領(lǐng)域。 通過自由切換多種工作模式，TrackScan-P42可以滿足不同的掃描情況。1 17條交叉的藍(lán)色激光線實(shí)現(xiàn)了超快的掃描速度和流暢的體驗(yàn)。7 7條平行的藍(lán)色激光線可用于細(xì)節(jié)捕捉，TrackScan-P42跟蹤式三維掃描系統(tǒng)，采用智能光學(xué)跟蹤測(cè)量技術(shù)，配備高品質(zhì)光學(xué)設(shè)備，無需貼點(diǎn)即可完成高精度動(dòng)態(tài)三維測(cè)量，可應(yīng)用于質(zhì)量控制、產(chǎn)品開發(fā)、逆向工程等多個(gè)方面。 基于不同的掃描場(chǎng)景需求，TrackScan-P42可自由切換多種工作模式。

TrackScan-P42跟蹤式三維掃描系統(tǒng)，采用智能光學(xué)跟蹤測(cè)量技術(shù)，配備高品質(zhì)光學(xué)設(shè)備，無需貼點(diǎn)即可完成高精度動(dòng)態(tài)三維測(cè)量，可應(yīng)用于質(zhì)量控制、產(chǎn)品開發(fā)、逆向工程等多個(gè)方面?；诓煌膾呙鑸?chǎng)景需求，TrackScan-P42可自由切換多種工作模式。34束交叉藍(lán)色激光很快掃描，高效靈活；7束平行藍(lán)色激光精細(xì)掃描，**細(xì)節(jié)；單束藍(lán)色激光掃描，迅速獲取深孔及死角位置三維數(shù)據(jù)。TrackScan-P42可搭配便攜式CMM測(cè)量光筆T-Probe，可準(zhǔn)確獲取工件縫隙、孔位、凹槽等復(fù)雜處的高精密點(diǎn)云數(shù)據(jù)。還可以提供開發(fā)接口，與機(jī)器人協(xié)同工作，實(shí)現(xiàn)智能在線批量自動(dòng)化三維檢測(cè)。

主要特點(diǎn)：

• 無需貼點(diǎn) 智能追蹤
• 快速高效 無懼細(xì)節(jié)
• 很強(qiáng)適應(yīng)力 環(huán)境感知度
• 無線光筆 測(cè)量不局限
• 動(dòng)態(tài)參考 實(shí)時(shí)追蹤
• 測(cè)量范圍自由擴(kuò)展

1. 基于智能光學(xué)跟蹤測(cè)量技術(shù)，無需貼點(diǎn)，即刻掃描，大幅提升工作效率、降低人力物力成本
2. 34束交叉藍(lán)色激光很快掃描，掃描速度1,900,000次測(cè)量/秒，
3. 7束平行藍(lán)色激光精細(xì)掃描，單束藍(lán)色激光掃描，迅速獲取深孔及死角位置三維數(shù)據(jù)
4. 輕松獲取光亮、黑色材質(zhì)物體三維數(shù)據(jù)；不易受環(huán)境、震動(dòng)、溫度等外界因素影
5. 便攜式CMM測(cè)量光筆T-Probe，單點(diǎn)重復(fù)性0.030 mm，用于獲取基準(zhǔn)孔、隱藏點(diǎn)等關(guān)鍵部位
6. 利用動(dòng)態(tài)參考功能，TrackScan-P42能在E-Track或物體移動(dòng)中正常工作，并實(shí)時(shí)獲取物體完整三維數(shù)據(jù)
7. 通過調(diào)整E-Track光學(xué)跟蹤器的位置，可對(duì)測(cè)量范圍自由靈活地?cái)U(kuò)展，且始終保持穩(wěn)定的高精度
8. 支持光學(xué)跟蹤和標(biāo)記點(diǎn)跟蹤兩種模式，可根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)工作情況靈活切換
9. TrackScan-P42掃描儀采用一體式結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，航空航天級(jí)碳纖維材料，非常堅(jiān)固耐用