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PH20Renishaw測(cè)頭測(cè)座

PH20是一種動(dòng)態(tài)測(cè)量測(cè)座， 測(cè)量效率提高了兩倍，同時(shí)仍保持很高的系統(tǒng)精度。新型PH20測(cè)座采用了為REVO®測(cè)量系統(tǒng)（曾獲得多項(xiàng)殊榮） 而開(kāi)發(fā)的技術(shù)。 它運(yùn)用*的“測(cè)座碰觸” 方法進(jìn)行快速觸發(fā)測(cè)量和快速五軸無(wú)級(jí)定位， 確保實(shí)現(xiàn)*佳工件測(cè)量。 傳統(tǒng)觸發(fā)測(cè)量方法依靠加快坐標(biāo)測(cè)量機(jī) (CMM)的三軸運(yùn)動(dòng)速度進(jìn)行快速測(cè)量， PH20與之不同， 它采用測(cè)座運(yùn)動(dòng)來(lái)大限度降低由坐標(biāo)測(cè)量機(jī)高速運(yùn)動(dòng)所引起的動(dòng)態(tài)誤差。 其簡(jiǎn)潔小巧的設(shè)計(jì)既適用于新購(gòu)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，也適用于大多數(shù)現(xiàn)有的用于觸發(fā)測(cè)量的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)改造。PH20集成了行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的TP20觸發(fā)式測(cè)頭， 可直接配用一系列成熟的測(cè)頭模塊和各種測(cè)力、 方向感應(yīng)選項(xiàng)及加長(zhǎng)桿， 以滿(mǎn)足應(yīng)用需求。磁力式模塊可提供碰撞保護(hù)， 并可以利用MCR20NI交換架實(shí)現(xiàn)自動(dòng)交換。 現(xiàn)有的TP20系統(tǒng)用戶(hù)可以升級(jí)到PH20， 并可繼續(xù)使用已有模塊*。PH20測(cè)座通過(guò)采用*的快速“推論校正” 技術(shù)而大大減少了校正時(shí)間。 該技術(shù)可以一次確定測(cè)座方向和測(cè)頭位置， 進(jìn)而在任意測(cè)座角度完成后續(xù)測(cè)量。 系統(tǒng)的設(shè)計(jì)無(wú)需氣源， 既可直接安裝， 也可以用多種安裝轉(zhuǎn)接頭通過(guò)刀柄安裝到坐標(biāo)測(cè)量機(jī)軸套上。

上海篤摯儀器專(zhuān)業(yè)代理商，貨全價(jià)低，售后有保障！

主要特點(diǎn)
設(shè)計(jì)緊湊 – 適合各種使用刀柄或軸套安裝的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。
雷尼紹坐標(biāo)測(cè)量機(jī)控制器 – 與I++DME通信協(xié)議兼容；適用多種測(cè)量軟件。
可重復(fù)定位測(cè)座兼容性 – 在多數(shù)情況下， 無(wú)需修改現(xiàn)有程序。
內(nèi)置TP20測(cè)頭 – 可實(shí)現(xiàn)現(xiàn)有設(shè)備的重復(fù)使用。

創(chuàng)新技術(shù)
快速測(cè)座碰觸 – 坐標(biāo)測(cè)量機(jī)靜止不動(dòng)， 測(cè)座移動(dòng)并采集接觸點(diǎn)。
快速五軸移動(dòng) – 測(cè)座和坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在兩次測(cè)量之間同步運(yùn)動(dòng)。
推論校正 – 可以一次確定測(cè)座方向和測(cè)頭位置， 進(jìn)而在任意測(cè)座角度完成后續(xù)測(cè)量。

其他信息
• PH20可直接裝到坐標(biāo)測(cè)量機(jī)軸套上。 還提供各種刀柄適配器。
• PH20系統(tǒng)采用雷尼紹通用坐標(biāo)測(cè)量機(jī)控制器系統(tǒng)， 可提供專(zhuān)門(mén)用于五軸運(yùn)動(dòng)和測(cè)座碰觸測(cè)量的功能。
• 通過(guò)雷尼紹UCCserver™軟件應(yīng)用程序?qū)崿F(xiàn)的I++DME通信協(xié)議。

    篤摯儀器（上海）有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有：
    ==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀；
    ==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x；
    ==>>德國(guó)馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺；
    ==>>德國(guó)EPK（Elektrophysik）手持式涂覆層測(cè)厚儀；
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    ==>>美國(guó)API  XD系列激光干涉儀；
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    ==>>英國(guó)雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺；
    ==>>德國(guó)Fraunhofer－IZFP無(wú)損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無(wú)損測(cè)量系統(tǒng)；
    ==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器；
    ==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀；
    ==>>TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、萬(wàn)能測(cè)長(zhǎng)機(jī)；
    ==>>杭州思看科技三維掃描儀；