觸發(fā)式測頭測針雷尼紹Renishaw
上海篤摯儀器提供雷尼紹品種齊全的精密測針及測針附件,可用在雷尼紹的坐標測量機測頭、機床測頭、掃描測頭以及Equator™比對儀上。
掃描測針的選型取決于掃描應(yīng)用和掃描測頭的類型。所使用測針的直徑應(yīng)與生產(chǎn)工件所用精加工刀具的直徑相同。選擇盡可能短的測針以防過度彎曲,但要確保測針足夠長以防掃描時碰撞。
直測針:
直測針是簡單且常用的測針類型,適合大多數(shù)測量應(yīng)用。測針球頭材質(zhì)為紅寶石、氮化硅、氧化鋯、陶瓷或碳化鎢。測針夾持座和測桿有一系列材料供選擇 — 鈦、碳化鎢、不銹鋼、陶瓷和碳纖維。
星形測針:
星形測針是由固定安裝在一起的測針組成的多測尖測針配置。星形測針可用于檢測多種特征,包括測針可直接接觸的各種表面和孔。此配置靈活性強,測尖可與各種特征接觸,無需更換測針??梢允褂脺y針中心座安裝(多)5個測針組件,從而自行配置星形測針。
測球材質(zhì)為紅寶石、氮化硅或氧化鋯。星形測針的每個測尖都需要用與單球測針一樣的方式標定。
針型測針:
這些針型測針不能用于傳統(tǒng)的XY軸向測量,而于螺紋牙型、特定點及刻劃線(按較低精度)的檢測。采用針形測針,可進行更準確的標定及特征的精細檢測,并可用于檢測細孔的位置。
半球形測針:
半球形陶瓷測針是檢測X、Y和Z向深位特征和孔的理想選擇,只需要標定一個球。此外,用這種大直徑測球測量可均化表面粗糙度造成的影響。
柱形測針:
柱形測針用于測量球形測針無法準確接觸的金屬片、模壓組件和薄工件中的孔。還可測量各種螺紋特征,并可定位攻絲孔的中心。球端面柱形測針可進行全面標定及X、Y和Z向測量,因此可進行表面測量。
盤形測針:
盤形測針是高球度測球的“截面”,用于檢測星形測針無法觸及的孔內(nèi)退刀槽和凹槽。盡管用簡易盤形測針的“球形邊緣”進行測量與以大直徑測球的外圓進行測量效果相同,但測球表面僅有一小部分能夠接觸到特征。因此為確保與待測特征有良好接觸,較薄的盤形測針需要仔細調(diào)整角度。
簡易盤形測針僅需要標定一個直徑(通常使用環(huán)規(guī)),但僅限于X和Y方向的有效測量。在盤形測針上加一個“半球形滾子”即可進行Z方向標定和測量,但該半球形滾子的中心位置須超過測頭直徑。半球形滾子可用標準球或塊規(guī)標定。將盤形測針繞其中心轉(zhuǎn)動并鎖定,可定位“半球形滾子”,使之與實際應(yīng)用位置適應(yīng)。
盤形測針的中心還可帶有M2螺紋,可用于固定測針中心座,這增強了測量深孔底部特征的靈活性(盤形測針本身難以觸測這些特征)。盤形測針有多種直徑和厚度規(guī)格,材質(zhì)通常為鋼、陶瓷或紅寶石。